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介绍薄膜测厚仪的测试原理及操作方法

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 　　薄膜测厚仪是一种常用的薄膜厚度检测方法，采用机械接触式测量标准，适用于2mm范围内各种薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度准确测量，误差小，操作简单方便，满足GB/T 6672《薄膜和薄片厚度测定 机械测量法》等标准。
　　薄膜的厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离。对于微电子薄膜而言，如光学薄膜，抗氧化薄膜，巨磁电阻薄膜，高温超导薄膜等，其厚度是一个非常重要的参数，直接关系到该薄膜材料能否正常工作。除此之外，薄膜的厚度也会直接影响到薄膜材料的力学性能，透光性能，磁性能，热导率，表面结构等。
　　测试原理
　　将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。
　　薄膜测厚仪操作方法介绍
　　根据国标中的要求，对同一张薄膜选取10个测试点，薄膜厚度测量方法如下：
　　1、将两个激光传感器分装在薄膜试样的上下方，把传感器固定在支架上。
　　2、打开仪器，设置参数，放置对比量块，点击“确认”。
　　3、取走滑块，重新设置与步骤（2）相同的参数，放入薄膜试样。
　　4、分别取10个不同的点，位置尽量错开，避免因距离太近影响数据。
　　5、测量值通过串口传输到计算机，再通过在计算机上的测厚软件进行处理，得到目标的厚度值。
　　更多关于薄膜测厚仪可以关注我们的网站，还有什么想要了解的内容，可以给小编留言告诉小编哦，小编整理好内容，下期新闻再跟大家见面！

 

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