产品介绍
真空衰减法包装微泄露无损密封检测仪MLT-V100
产品简介
MLT-V100 型微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用*的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。
执行标准
《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 、SP1207美国药典标准
技术参数
测试方法压差真空、正压衰减
测试系统多传感器技术
真空范围0~-100kpa/0~-14.5PSI/0~-1000mbar
测试精度最小0.01CCM(直径约为1μm)
测试单位mbar/pa/psi
测试时间5-30s
操作界面7寸液晶触摸屏
真空分辨率1pa/0.01mbar/0.0001psi
数据转移USB/485通讯
数据存储Excel格式
管理权限三级管理权限
安全密钥有
测试参数存储超过600组数据 (数据长期保存)
真空来源外置电动真空泵
测试结果通过/不通过自动判断
测试标准ASTM F2338
外壳材质工程塑料,不锈钢
外形尺寸320×510×320mm
电源100-240VAC宽电源
气源接口φ6mm聚氨酯管
采集频率50HZ
打印配置配置微型打印机(针式/热敏可选),可转存打印A4报告
仪器重量约18kg
夹具配置手动夹具,自动夹具
测试配置实验室离线,抽样测试
测试方法 | 方法解释 |
单传感器测试技术 | 单传感器一般指使用一个压力传感器,压力传感器与测试腔连接,通过传感器的压力变化判断测试结果。 此技术检测精度较低,一般可检测5ccm(约25μm漏孔)。其检测精度取决于压力传感器的精度。 |
双传感器测试技术 | 一般指使用压力传感器和差压传感器两种传感器配合,采用双腔对比测试,通过监控差压传感器的压力变化判断测试结果。 此技术检测精度较高,可以分辨3μ以下的泄漏。 |
多传感器测试技术 | 在双传感器技术基础上增加力传感器或其他类型传感器,通过多传感器比较,提高测试精度和准确度并可以计算出泄漏孔径。 |
真空衰减法包装微泄露无损密封检测仪MLT-V100